纳米粒径和ZETA电位分析仪

基于动态光散射 (DLS) 系统，可以检测到0.3nm至10μm的粒径分布和 ζ 电位 (± 500mv)。专利技术，解决了复杂系统样品中的粒子分布检测问题。更重要的是，它可以从主峰的尾部分离出一个次峰，帮助研究人员确定样品主要成分的粒度。这是尝试开发新材料时的关键参数，这将极大地影响产品的最终性能。

仪器型号

Nicomp N3000纳米粒度分析仪

Nicomp Z3000纳米粒径和ZETA电位分析仪

工程

动态光散射

检测范围

粒度检测: 0.3nm ~ 10.0 | Μ m

• zeta电位:-500mV ~ 500mV

Nicomp 380系列纳米激光粒度分析仪利用动态光散射原理对样品的粒度分布进行检测和分析。基于多普勒电泳光散射原理 (Doppler daily ectrophoretic light scarsand，DE (5) 检测ZETA电位。主要用于检测纳米级和亚微米级体系，粒径检测范围为0.3 nm-10。μm，ZETA电位检测范围为/-500mV。动态光散射法 (DLS) 脱离了传统的光散射理论，关注光强随时间的波动行为。我们通过光强度值的波动得到自相关函数，从而得到衰减时间常数T，并根据公式转换得到粒子的扩散速度D (扩散，扩散系数)。

技术优势

Nicomp动态光散射 (DLS) 系统可检测0.3 nm至10 nmμm粒径分布和zeta电位Nicomp系统配备了获得专利的Nicomp多模态算法，解决了复杂系统样品中的粒径分布检测问题。更重要的是，它可以从主峰的尾部分离出一个次峰，帮助研究人员确定样品主要成分的粒度。这是尝试开发新材料时的关键参数，这将极大地影响产品的最终性能。

电位模块

ZETA电位是颗粒的表面电荷，也是分散体系稳定性的关键评价依据。ZETA电位接近零的分散体通常是不稳定的，并且容易聚集或相分离。ZETA电位的绝对值越高，稳定性越好。

Nicomp使用基于相位分析的光散射 (PALS) 技术来测量非常灵敏的粒子运动。可以在低电场强度下进行测量，这对于诸如蛋白质或其他生物分子的敏感样品而言要温和得多。

ZETA电位是间接反映体系的稳定性和判断基团修饰的结果。

ZETA电位是一个非常重要的指标，可以分析该公式随着时间的推移更加稳定。

综合权限管理

您可以灵活设置用户管理权限，提高安全性。可以设置密码复杂度、自动注销时间和密码修改时间，以满足CSV计算机系统验证。

完整的审计跟踪

提供详细的审计记录。您可以导出和打印日志，以记录登录过程中的所有操作。您可以根据操作类型、时间和项目进行搜索。多种数据备份方法。数据备份支持手动和自动备份到指定的文件路径。